CSK-IA和CSK-IB试块的主要用途 

该试块主要用于测定探伤仪、探头及的组合性能

两个试块的主要区别在于：CSK-IB试块在原有CSK-IA的基础上增加了测试斜探头折射角的刻度面。
使用要点：
1)利用厚度25mm测定探伤仪的水平线性、垂直线性和动态范围；
2)利用厚度25mm和高度100mm调整纵波探测范围；
3)利用R50和R100校定时基线或测定斜探头的入射点；
4)利用高度85、91、100ram测定直探头的分辨力；
5)利用中40、中44、中50ram曲面测定斜探头的分辨力；
6)利用中50有机玻璃圆孔测定直探头盲区和穿透能力；
7)利用中50曲面和巾1．5横孔测定斜探头的K值；
8)利用高度9lmm(纵波声程9lmm相当于横波50mm)调节横波1：1扫描速度，配合R100作零位校正；
9)、利用试块直角棱边测定斜探头的声轴偏斜角。
CSK-IA超声波探伤标准试块

CSK－1B试块校准斜探头的步骤

1．输入材料声速：3230m/s 2. 探头前沿校准 (1)如图1所示，将探头放在CSK－1B标准试块的0位上

2．前后移动探头，使试块R100圆弧面的回波幅度*高，回波幅度不要超出屏幕，否则需要减小增益。

3．当回波幅度达到*高时，保持探头不动，在与试块“0”刻度对应的探头侧面作好标记，这点就是波束的入射点，从探头刻度尺上直接读出试块“0”刻度所对应的刻度值，即为探头的前沿值。(或用刻度尺测量图1所示L值，前沿x=100-L。)， 将探头前沿值输入“探头”功能内的“探头前沿”中，探头前沿测定完毕。

CSK-IB（A）试块