祈色超声波探伤仪标准校准试块CSK-IA工业探伤试块标准NB/T47013支架

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商品详情

CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的

主要用途有:

1、利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和前沿长度;

2、利用50和1.5mm圆孔测定斜探头的折射角;

3、利用试块直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况;

4、利用25mm厚度测定探伤仪水平线性、垂直线性和动态范围;

5、利用25mm 厚度调整纵波探测范围和扫描速度;

6、利用R50和 R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;

7、利用50、44和40mm 三个台阶孔测定斜探头分辨力。